Advanced optical quality assurance of silicon micro-strip sensors for the CBM Silicon Tracking System

DSpace Repositorium (Manakin basiert)

Advanced optical quality assurance of silicon micro-strip sensors for the CBM Silicon Tracking System

Autor(en): Lavrik, E.
Tübinger Autor(en):
Lavrik, Evgeny
Erschienen in: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A - Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment (2019), Bd. 936, S. 640-641
Verlagsangabe: Elsevier Science Bv
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.09.131
ISSN: 1872-9576
DDC-Klassifikation: 600 - Technik
530 - Physik
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
Zur Langanzeige

Das Dokument erscheint in: