Macro-SICM : A Scanning Ion Conductance Microscope for Large-Range Imaging

Autor(en):

Schierbaum, Nicolas; Hack, Martin; Betz, Oliver; Schaeffer, Tilman E.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Analytical Chemistry (2018), Bd. 90, H. 8, S. 5048-5054

Verlagsangabe:

Amer Chemical Soc

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1520-6882

DDC-Klassifikation:

540 - Chemie

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: