Origin of the current-driven breakdown in vanadium oxides: Thermal versus electronic

Autor(en):

Valmianski, I; Wang, P. Y.; Wang, S.; Gabriel Ramirez, Juan; Guenon, S.; Schuller, Ivan K.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Physical Review B (2018), Bd. 98, Article 195144

Verlagsangabe:

Amer Physical Soc

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

2469-9969

DDC-Klassifikation:

530 - Physik
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: