An Accurate Model for the Ion Current-Distance Behavior in Scanning Ion Conductance Microscopy Allows for Calibration of Pipet Tip Geometry and Tip-Sample Distance

Autor(en):

Rheinlaender, Johannes; Schaeffer, Tilman E.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Analytical Chemistry (2017), Bd. 89, H. 21, S. 11875-11880

Verlagsangabe:

Amer Chemical Soc

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1520-6882

DDC-Klassifikation:

540 - Chemie

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: