Comparison of Atomic Force Microscopy and Scanning Ion Conductance Microscopy for Live Cell Imaging

Autor(en):

Seifert, Jan; Rheinlaender, Johannes; Novak, Pavel; Korchev, Yuri E.; Schaeffer, Tilman E.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Langmuir (2015), Bd. 31, H. 24, S. 6807-6813

Verlagsangabe:

Amer Chemical Soc

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

0743-7463

DDC-Klassifikation:

540 - Chemie
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: