Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience

Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glass, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Joerg; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kuehn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad; Tahoori, Mehdi B.; Teich, Juergen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; Wunderlich, Hans-Joachim

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dc.contributor.author	Rosenstiel, Wolfgang
dc.contributor.author	Kühn, Johannes Maximilian
dc.date.accessioned	2014-09-23T15:24:31Z
dc.date.available	2014-09-23T15:24:31Z
dc.date.issued	2014
dc.identifier.issn	0026-2714
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10900/56423
dc.language.iso	en	de_DE
dc.publisher	Pergamon - Elsevier Science Ltd	de_DE
dc.relation.uri	http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2013.12.012	de_DE
dc.rights	info:eu-repo/semantics/closedAccess
dc.subject.ddc	530	de_DE
dc.subject.ddc	600	de_DE
dc.title	Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience	de_DE
dc.type	Article	de_DE
dc.type	ConferenceObject	de_DE
utue.quellen.id	20140813180100_00305	de_DE
utue.publikation.seiten	1066-1074	de_DE
utue.personen.roh	Herkersdorf, Andreas
utue.personen.roh	Aliee, Hananeh
utue.personen.roh	Engel, Michael
utue.personen.roh	Glass, Michael
utue.personen.roh	Gimmler-Dumont, Christina
utue.personen.roh	Henkel, Joerg
utue.personen.roh	Kleeberger, Veit B.
utue.personen.roh	Kochte, Michael A.
utue.personen.roh	Kuehn, Johannes M.
utue.personen.roh	Mueller-Gritschneder, Daniel
utue.personen.roh	Nassif, Sani R.
utue.personen.roh	Rauchfuss, Holm
utue.personen.roh	Rosenstiel, Wolfgang
utue.personen.roh	Schlichtmann, Ulf
utue.personen.roh	Shafique, Muhammad
utue.personen.roh	Tahoori, Mehdi B.
utue.personen.roh	Teich, Juergen
utue.personen.roh	Wehn, Norbert
utue.personen.roh	Weis, Christian
utue.personen.roh	Wunderlich, Hans-Joachim
dcterms.isPartOf.ZSTitelID	Microelectronics Reliability	de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Issue	6-7	de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Volume	54	de_DE
utue.fakultaet	07 Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät	de_DE