Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience

Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glass, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Joerg; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kuehn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad; Tahoori, Mehdi B.; Teich, Juergen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; Wunderlich, Hans-Joachim

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Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience

Autor(en):

Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glass, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Joerg; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kuehn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad; Tahoori, Mehdi B.; Teich, Juergen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; Wunderlich, Hans-Joachim

Tübinger Autor(en):

Rosenstiel, Wolfgang
Kühn, Johannes Maximilian

Erschienen in:

Microelectronics Reliability (2014), Bd. 54, H. 6-7, S. 1066-1074

Verlagsangabe:

Pergamon - Elsevier Science Ltd

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2013.12.012

ISSN:

0026-2714