Creep compliance mapping by atomic force microscopy

DSpace Repositorium (Manakin basiert)

Creep compliance mapping by atomic force microscopy

Autor(en): Braunsmann, Christoph; Proksch, Roger; Revenko, Irene; Schaeffer, Tilman E.
Tübinger Autor(en):
Braunsmann, Christoph
Schäffer, Tilman
Erschienen in: Polymer (2014), Bd. 55, H. 1, S. 219-225
Verlagsangabe: Elsevier Sci Ltd
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1016/j.polymer.2013.11.029
ISSN: 0032-3861
DDC-Klassifikation: 530 - Physik
540 - Chemie
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
Zur Langanzeige

Das Dokument erscheint in: