Biprism electron interferometry with a single atom tip source

Autor(en):

Schuetz, G.; Rembold, A.; Pooch, A.; Meier, S.; Schneeweiss, P.; Rauschenbeutel, A.; Guenther, A.; Chang, W. T.; Hwang, I. S.; Stibor, A.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Ultramicroscopy (2014), Bd. 141, S. 9-15

Verlagsangabe:

Elsevier Science Bv

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

0304-3991

DDC-Klassifikation:

570 - Biowissenschaften, Biologie
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: