Photoemission study of the Si(111)-native SiO2/copper phthalocyanine (CuPc) ultra-thin film interface

Autor(en):

Grzadziel, L.; Krzywiecki, M.; Peisert, H.; Chasse, T.; Szuber, J.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Organic Electronics (2012), Bd. 13, H. 10, S. 1873-1880

Verlagsangabe:

Elsevier Science Bv

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1566-1199

DDC-Klassifikation:

530 - Physik
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: