In situ structural characterization of picene thin films by X-ray scattering: Vacuum versus O-2 atmosphere

Autor(en):

Hosokai, T.; Hinderhofer, A.; Vorobiev, A.; Lorch, C.; Watanabe, T.; Koganezawa, T.; Gerlach, A.; Yoshimoto, N.; Kubozono, Y.; Schreiber, F.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Chemical Physics Letters (2012), Bd. 544, S. 34-38

Verlagsangabe:

Elsevier Science Bv

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

0009-2614

DDC-Klassifikation:

530 - Physik
540 - Chemie

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: