Edge superconductivity in Nb thin film microbridges revealed by electric transport measurements and visualized by scanning laser microscopy

Autor(en):

Werner, R.; Aladyshkin, A. Yu; Nefedov, I. M.; Putilov, A. V.; Kemmler, M.; Bothner, D.; Loerincz, A.; Ilin, K.; Siegel, M.; Kleiner, R.; Koelle, D.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Superconductor Science & Technology (2013), Bd. 26, Article 095011

Verlagsangabe:

Iop Publishing Ltd

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

0953-2048

DDC-Klassifikation:

530 - Physik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: