A comprehensive calibration of integrated magnetron sputtering and plasma enhanced chemical vapor deposition for rare-earth doped thin films

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dc.contributor.author Wolz, Lukas
dc.date.accessioned 2024-10-30T10:35:28Z
dc.date.available 2024-10-30T10:35:28Z
dc.date.issued 2024
dc.identifier.issn 0884-2914
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10900/158595
dc.language.iso en en
dc.publisher Heidelberg : Springer Heidelberg de_DE
dc.relation.uri http://dx.doi.org/10.1557/s43578-023-01207-2
dc.subject.ddc 600 de_DE
dc.title A comprehensive calibration of integrated magnetron sputtering and plasma enhanced chemical vapor deposition for rare-earth doped thin films de_DE
dc.type Article de_DE
utue.quellen.id 20240422000000_01356
utue.publikation.seiten 150-164 de_DE
utue.personen.roh Khatami, Zahra
utue.personen.roh Wolz, Lukas
utue.personen.roh Wojcik, Jacek
utue.personen.roh Mascher, Peter
dcterms.isPartOf.ZSTitelID Journal of Materials Research de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Issue 1 de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Volume 39 de_DE
utue.fakultaet Universität Tübingen (ohne Fakultätsangabe)


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