FPGA-basierter Wafer-Level Test und Charakterisierungsmethoden für MEMS Beschleunigungssensoren

DSpace Repositorium (Manakin basiert)

FPGA-basierter Wafer-Level Test und Charakterisierungsmethoden für MEMS Beschleunigungssensoren

Autor(en): Baehr, Ulrich
Tübinger Autor(en):
Baehr, Ulrich
Sonstige Beteiligte: Eberhard Karls Universität Tübingen
Erscheinungsjahr: 2023
Verlagsangabe: Tübingen
Sprache: Deutsch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.15496/publikation-92094
Dokumentart: Dissertation
Seitenzahl: XIII, 145 Seiten
Verbund-Nachweis: 1881438414
Kommentar: Erscheint auch als Online-Ausgabe
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