FPGA-basierter Wafer-Level Test und Charakterisierungsmethoden für MEMS Beschleunigungssensoren

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FPGA-basierter Wafer-Level Test und Charakterisierungsmethoden für MEMS Beschleunigungssensoren

Author: Baehr, Ulrich
Tübinger Autor(en):
Baehr, Ulrich
Other Contributors: Eberhard Karls Universität Tübingen
Issue year: 2023
Verlagsangabe: Tübingen
Language: German
Full text: http://dx.doi.org/10.15496/publikation-92094
Dokumentart: PhDThesis
Pages: XIII, 145 Seiten
Reference: 1881438414
Note: Erscheint auch als Online-Ausgabe
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