Multilayer patent citation networks: A comprehensive analytical framework for studying explicit technological relationships

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dc.contributor.author Contisciani, Martina
dc.contributor.author De Bacco, Caterina
dc.date.accessioned 2022-11-14T13:24:40Z
dc.date.available 2022-11-14T13:24:40Z
dc.date.issued 2022
dc.identifier.issn 0040-1625
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10900/133021
dc.language.iso en en
dc.publisher Elsevier Science Inc de_DE
dc.relation.uri http://dx.doi.org/10.1016/j.techfore.2022.121628
dc.subject.ddc 330 de_DE
dc.title Multilayer patent citation networks: A comprehensive analytical framework for studying explicit technological relationships de_DE
dc.type Article de_DE
utue.quellen.id 20220728000000_00522
utue.personen.roh Higham, Kyle
utue.personen.roh Contisciani, Martina
utue.personen.roh De Bacco, Caterina
dcterms.isPartOf.ZSTitelID Technological Forecasting and Social Change de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Issue Article 121628 de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Volume 179 de_DE
utue.fakultaet Sonstige


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