Multilayer patent citation networks: A comprehensive analytical framework for studying explicit technological relationships

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Multilayer patent citation networks: A comprehensive analytical framework for studying explicit technological relationships

Autor(en): Higham, Kyle; Contisciani, Martina; De Bacco, Caterina
Tübinger Autor(en):
Contisciani, Martina
De Bacco, Caterina
Erschienen in: Technological Forecasting and Social Change (2022), Bd. 179, Article 121628
Verlagsangabe: Elsevier Science Inc
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1016/j.techfore.2022.121628
ISSN: 0040-1625
DDC-Klassifikation: 330 - Wirtschaft
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
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