Optical inspection of the silicon micro-strip sensors for the CBM experiment employing artificial intelligence
Autor(en):
|
Lavrik, E.; Shiroya, M.; Schmidt, H. R.; Toia, A.; Heuser, J. M.
|
Tübinger Autor(en):
|
|
Erschienen in:
|
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A - Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment
(2022), Bd.
1021,
Article 165932
|
Verlagsangabe:
|
Amsterdam
|
Sprache:
|
Englisch
|
Referenz zum Volltext:
|
http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2021.165932
|
ISSN:
|
0168-9002
|
DDC-Klassifikation:
|
530 - Physik 600 - Technik
|
Dokumentart:
|
Wissenschaftlicher Artikel
|
Zur Langanzeige
|