The effect of finite sample thickness in scanning ion conductance microscopy stiffness measurements

Autor(en):

Rheinlaender, Johannes; Schaeffer, Tilman E.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Applied Physics Letters (2020), Bd. 117, Article 113701

Verlagsangabe:

Amer Inst Physics

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1077-3118

DDC-Klassifikation:

530 - Physik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: