Perturbation-evoked potentials can be classified from single-trial EEG

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Perturbation-evoked potentials can be classified from single-trial EEG

Autor(en): Ditz, Jonas C.; Schwarz, Andreas; Mueller-Putz, Gernot R.
Tübinger Autor(en):
Ditz, Jonas C.
Erschienen in: Journal of Neural Engineering (2020), Bd. 17, Article 036008
Verlagsangabe: Iop Publishing Ltd
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1088/1741-2552/ab89fb
ISSN: 1741-2552
DDC-Klassifikation: 570 - Biowissenschaften, Biologie
600 - Technik
610 - Medizin, Gesundheit
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
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