Simultaneous Monitoring of Molecular Thin Film Morphology and Crystal Structure by X-ray Scattering

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Simultaneous Monitoring of Molecular Thin Film Morphology and Crystal Structure by X-ray Scattering

Autor(en): Mrkyvkova, Nada; Nadazdy, Peter; Hodas, Martin; Chai, Jianwei; Wang, Shijie; Chi, Dongzhi; Sojkova, Michaela; Hulman, Martin; Chumakov, Andrei; Konovalov, Oleg, V; Hinderhofer, Alexander; Jergel, Matej; Majkova, Eva; Siffalovic, Peter; Schreiber, Frank
Tübinger Autor(en):
Hodas, Martin
Hinderhofer, Alexander
Schreiber, Frank
Erschienen in: Crystal Growth & Design (2020), Bd. 20, H. 8, S. 5269-5276
Verlagsangabe: Amer Chemical Soc
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1021/acs.cgd.0c00448
ISSN: 1528-7505
DDC-Klassifikation: 540 - Chemie
570 - Biowissenschaften, Biologie
600 - Technik
610 - Medizin, Gesundheit
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
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