Revealing the local crystallinity of single silicon core-shell nanowires using tip-enhanced Raman spectroscopy

Autor(en):

van den Berg, Marius; Moeinian, Ardeshir; Kobald, Arne; Chen, Yu-Ting; Horneber, Anke; Strehle, Steffen; Meixner, Alfred J.; Zhang, Dai

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Beilstein Journal of Nanotechnology (2020), Bd. 11, S. 1147-1156

Verlagsangabe:

Beilstein - Institut

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

2190-4286

DDC-Klassifikation:

530 - Physik
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: