Characterizing dielectric properties of ultra-thin films using superconducting coplanar microwave resonators

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Characterizing dielectric properties of ultra-thin films using superconducting coplanar microwave resonators

Autor(en): Ebensperger, Nikolaj G.; Ferdinand, Benedikt; Koelle, Dieter; Kleiner, Reinhold; Dressel, Martin; Scheffler, Marc
Tübinger Autor(en):
Ferdinand, Benedikt
Kleiner, Reinhold
Kölle, Dieter
Erschienen in: Review of Scientific Instruments (2019), Bd. 90, Article 114701
Verlagsangabe: Amer Inst Physics
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1063/1.5116904
ISSN: 1089-7623
DDC-Klassifikation: 530 - Physik
600 - Technik
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
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