Mission profile-based assessment of semiconductor technologies for automotive applications

Autor(en):

Ahari, Ali; Viehl, Alexander; Bringmann, Oliver; Rosenstiel, Wolfgang

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Microelectronics Reliability (2018), Bd. 91, S. 129-138

Verlagsangabe:

Pergamon - Elsevier Science Ltd

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

0026-2714

DDC-Klassifikation:

600 - Technik
530 - Physik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: