A high-resolution combined scanning laser and widefield polarizing microscope for imaging at temperatures from 4 K to 300 K

Autor(en):

Lange, M.; Guenon, S.; Lever, F.; Kleiner, R.; Koelle, D.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Review of Scientific Instruments (2017), Bd. 88, Article 123705

Verlagsangabe:

Amer Inst Physics

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1089-7623

DDC-Klassifikation:

530 - Physik
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: