Complexity Certification of the Fast Alternating Minimization Algorithm for Linear MPC
Autor(en):
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Pu, Ye; Zeilinger, Melanie N.; Jones, Colin N.
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Tübinger Autor(en):
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Erschienen in:
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IEEE Transactions on Automatic Control
(2017), Bd.
62,
H.
2,
S.
888-893
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Verlagsangabe:
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IEEE - Inst Electrical Electronics Engineers Inc
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Sprache:
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Englisch
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Referenz zum Volltext:
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http://dx.doi.org/10.1109/TAC.2016.2561407
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ISSN:
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1558-2523
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DDC-Klassifikation:
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004 - Informatik 600 - Technik
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Dokumentart:
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Wissenschaftlicher Artikel
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