Three-Dimensional Simulations of the Electrothermal and Terahertz Emission Properties of Bi2Sr2CaCu2O8 Intrinsic Josephson Junction Stacks

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Three-Dimensional Simulations of the Electrothermal and Terahertz Emission Properties of Bi2Sr2CaCu2O8 Intrinsic Josephson Junction Stacks

Autor(en): Rudau, F.; Wieland, R.; Langer, J.; Zhou, X. J.; Ji, M.; Kinev, N.; Hao, L. Y.; Huang, Y.; Li, J.; Wu, P. H.; Hatano, T.; Koshelets, V. P.; Wang, H. B.; Koelle, D.; Kleiner, R.
Tübinger Autor(en):
Rudau, Fabian
Wieland, Raphael
Kleiner, Reinhold
Kölle, Dieter
Langer, Julian
Erschienen in: Physical Review Applied (2016), Bd. 5, Article 044017
Verlagsangabe: Amer Physical Soc
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevApplied.5.044017
ISSN: 2331-7019
DDC-Klassifikation: 530 - Physik
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
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