Author:
|
Asseng, S.; Ewert, F.; Martre, P.; Roetter, R. P.; Lobell, D. B.; Cammarano, D.; Kimball, B. A.; Ottman, M. J.; Wall, G. W.; White, J. W.; Reynolds, M. P.; Alderman, P. D.; Prasad, P. V. V.; Aggarwal, P. K.; Anothai, J.; Basso, B.; Biernath, C.; Challinor, A. J.; De Sanctis, G.; Doltra, J.; Fereres, E.; Garcia-Vile, M.; Gayler, S.; Hoogenboom, G.; Hunt, L. A.; Izaurralde, R. C.; Jabloun, M.; Jones, C. D.; Kersebaum, K. C.; Koehler, A-K.; Mueller, C.; Kumar, S. Naresh; Nendel, C.; O'Leary, G.; Olesen, J. E.; Palosuo, T.; Priesack, E.; Rezaei, E. Eyshi; Ruane, A. C.; Semenov, M. A.; Shcherbak, I.; Stoeckle, C.; Stratonovitch, P.; Streck, T.; Supit, I.; Tao, F.; Thorburn, P. J.; Waha, K.; Wang, E.; Wallach, D.; Wolf, I.; Zhao, Z.; Zhu, Y.
|