Effect of Sample Slope on Image Formation in Scanning Ion Conductance Microscopy
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Autor(en):
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Thatenhorst, Denis; Rheinlaender, Johannes; Schaeffer, Tilman E.; Dietzel, Irmgard D.; Happel, Patrick
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Tübinger Autor(en):
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Erschienen in:
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Analytical Chemistry
(2014), Bd.
86,
H.
19,
S.
9838-9845
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Verlagsangabe:
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Amer Chemical Soc
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Sprache:
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Englisch
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Referenz zum Volltext:
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http://dx.doi.org/10.1021/ac5024414
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ISSN:
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0003-2700
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DDC-Klassifikation:
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530 - Physik
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Dokumentart:
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Wissenschaftlicher Artikel
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Zur Langanzeige
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