Autor(en): | Loeffler, R.; Fleischer, M.; Kern, D. P. | |
Tübinger Autor(en): |
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Erschienen in: |
Microelectronic Engineering
(2012), Bd.
97,
S.
361-364 |
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Verlagsangabe: | Elsevier Science Bv | |
Sprache: | Englisch | |
Referenz zum Volltext: | http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2012.05.039 | |
ISSN: | 0167-9317 | |
DDC-Klassifikation: |
530 - Physik 600 - Technik |
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Dokumentart: | Wissenschaftlicher Artikel | |
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