Assessing Antisite Defect and Impurity Concentrations in Bi2Te3 Based Thin Films by High-Accuracy Chemical Analysis

Autor(en):

Peranio, Nicola; Winkler, Markus; Duerrschnabel, Michael; Koenig, Jan; Eibl, Oliver

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Advanced Functional Materials (2013), Bd. 23, H. 39, S. 4969-4976

Verlagsangabe:

Wiley - V C H Verlag Gmbh

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1616-301X

DDC-Klassifikation:

530 - Physik
540 - Chemie

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: