The seen & the unseen : from x-ray binary catalogues to probabilistic noise-processing techniques

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The seen & the unseen : from x-ray binary catalogues to probabilistic noise-processing techniques

Autor(en): Neumann, Marvin
Tübinger Autor(en):
Neumann, Marvin
Sonstige Beteiligte: Eberhard Karls Universität Tübingen
Erscheinungsjahr: 2025
Verlagsangabe: Tübingen
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.15496/publikation-117438
Dokumentart: Dissertation
Seitenzahl: xv, 120 Seiten
Verbund-Nachweis: 196701860X
Kommentar: Erscheint auch als Online-Ausgabe
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