Measuring the Shape, Stiffness, and Interface Tension of Droplets with the Scanning Ion Conductance Microscope

Autor(en):

Rheinlaender, Johannes; Schaeffer, Tilman E.

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Acs Nano (2024), Bd. 18, H. 25, S. 16257-16264

Verlagsangabe:

Washington : Amer Chemical Soc

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1936-0851

DDC-Klassifikation:

540 - Chemie
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: