Linear and nonlinear optical microscopy of layered materials at nanoscale

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Linear and nonlinear optical microscopy of layered materials at nanoscale

Autor(en): Pan, Lin
Tübinger Autor(en):
Pan, Lin
Sonstige Beteiligte: Eberhard Karls Universität Tübingen
Erscheinungsjahr: 2022
Verlagsangabe: Tübingen
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.15496/publikation-82293
Dokumentart: Dissertation
Seitenzahl: V, 152 Seiten
Verbund-Nachweis: 1922622567
Kommentar: Erscheint auch als Online-Ausgabe
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