Results on sub-GeV dark matter from a 10 eV threshold CRESST-III silicon detector

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Results on sub-GeV dark matter from a 10 eV threshold CRESST-III silicon detector

Autor(en): Angloher, G.; Banik, S.; Benato, G.; Bento, A.; Bertolini, A.; Breier, R.; Bucci, C.; Burkhart, J.; Canonica, L.; D'Addabbo, A.; Di Lorenzo, S.; Einfalt, L.; Erb, A.; von Feilitzsch, F.; Iachellini, N. Ferreiro; Fichtinger, S.; Fuchs, D.; Fuss, A.; Garai, A.; Ghete, V. M.; Gerster, S.; Gorla, P.; Guillaumon, P., V; Gupta, S.; Hauff, D.; Jeskovsky, M.; Jochum, J.; Kaznacheeva, M.; Kinast, A.; Kluck, H.; Kraus, H.; Langenkaemper, A.; Mancuso, M.; Marini, L.; Meyer, L.; Mokina, V.; Nilima, A.; Olmi, M.; Ortmann, T.; Pagliarone, C.; Pattavina, L.; Petricca, F.; Potzel, W.; Povinec, P.; Proebst, F.; Pucci, F.; Reindl, F.; Rothe, J.; Schaeffner, K.; Schieck, J.; Schmiedmayer, D.; Schoenert, S.; Schwertner, C.; Stahlberg, M.; Stodolsky, L.; Strandhagen, C.; Strauss, R.; Usherov, I.; Wagner, F.; Willers, M.; Zema, V.
Tübinger Autor(en):
Gerster, Simon-Tim
Hauff, D.
Jochum, Josef
Meyer, Lena
Strandhagen, Christian
Usherov-Marshak, Igor
Erschienen in: Physical Review D (2023), Bd. 107, H. 12
Verlagsangabe: College Pk : Amer Physical Soc
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.107.122003
ISSN: 2470-0010
DDC-Klassifikation: 520 - Astronomie, Kartographie
530 - Physik
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
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