Random and Adversarial Bit Error Robustness: Energy-Efficient and Secure DNN Accelerators

Autor(en):

Stutz, David; Chandramoorthy, Nandhini; Hein, Matthias; Schiele, Bernt

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence (2023), Bd. 45, H. 3, S. 3632-3647

Verlagsangabe:

IEEE Computer Soc

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

0162-8828

DDC-Klassifikation:

004 - Informatik
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: