Random and Adversarial Bit Error Robustness: Energy-Efficient and Secure DNN Accelerators

Autor(en):

Stutz, David; Chandramoorthy, Nandhini; Hein, Matthias; Schiele, Bernt

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

IEEE Transactions on Pattern Analysis & amp; Machine Intelligence (2023), Bd. 45, H. 3

Verlagsangabe:

IEEE Computer Society

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1939-3539

DDC-Klassifikation:

004 - Informatik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: