dc.contributor.author |
Schäffer, Tilman |
de_DE |
dc.date.accessioned |
2022-12-16T07:14:27Z |
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dc.date.available |
2022-12-16T07:14:27Z |
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dc.date.issued |
2022 |
de_DE |
dc.identifier.isbn |
978-3-031-14442-4 |
de_DE |
dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10900/134265 |
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dc.language.iso |
en |
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dc.publisher |
Cham Springer |
de_DE |
dc.relation.ispartofseries |
Bioanalytical reviews |
de_DE |
dc.relation.uri |
https://doi.org/10.1007/978-3-031-14443-1 |
de_DE |
dc.title |
Scanning ion conductance microscopy |
de_DE |
dc.type |
Book |
de_DE |
utue.kommentar.intern |
Erscheint auch als Online-Ausgabe |
de_DE |
utue.personen.pnd |
Schäffer, Tilman [HerausgeberIn]/302837116 |
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utue.personen.roh |
Schäffer, Tilman [HerausgeberIn] |
de_DE |
utue.publikation.seitengesamt |
XI, 230 Seiten |
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utue.titel.verfasserangabe |
Tilman E. Schäffer |
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utue.publikation.abrufzeichen |
t098 |
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utue.publikation.swbdatum |
2211 |
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utue.artikel.ppn |
1819017397 |
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