From radicals to triradicals : soft X-ray investigations of thin films and self-assembled monolayers

dc.contributor	Eberhard Karls Universität Tübingen	de_DE
dc.contributor.author	Junghöfer, Tobias	de_DE
dc.date.accessioned	2022-11-04T10:30:58Z
dc.date.available	2022-11-04T10:30:58Z
dc.date.issued	2021	de_DE
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10900/132818
dc.language.iso	en
dc.publisher	Tübingen	de_DE
dc.relation.uri	http://dx.doi.org/10.15496/publikation-63316	de_DE
dc.title	From radicals to triradicals : soft X-ray investigations of thin films and self-assembled monolayers	de_DE
dc.type	PhDThesis	de_DE
utue.kommentar.intern	Erscheint auch als Online-Ausgabe	de_DE
utue.personen.roh	Junghöfer, Tobias	de_DE
utue.publikation.seitengesamt	viii, 475 Seiten	de_DE
utue.titel.verfasserangabe	vorgelegt von Tobias Maximilian Junghöfer	de_DE
utue.publikation.abrufzeichen	tdis	de_DE
utue.publikation.swbdatum	2210	de_DE
utue.publikation.fachbereich	44	de_DE
utue.publikation.fakultaet	7	de_DE
utue.artikel.ppn	181835926X	de_DE