Low-Temperature Atomic Layer Deposited Oxide on Titanium Nitride Electrodes Enables Culture and Physiological Recording of Electrogenic Cells

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dc.contributor.author Dollt, Michele
dc.contributor.author Reh, Miriam
dc.contributor.author Heusel, Gerhard
dc.contributor.author Kriebel, Martin
dc.contributor.author Zeck, Günther
dc.date.accessioned 2021-12-20T07:46:54Z
dc.date.available 2021-12-20T07:46:54Z
dc.date.issued 2020
dc.identifier.issn 1662-453X
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10900/121856
dc.language.iso en de_DE
dc.publisher Frontiers Media Sa de_DE
dc.relation.uri http://dx.doi.org/10.3389/fnins.2020.552876 de_DE
dc.subject.ddc 570 de_DE
dc.subject.ddc 610 de_DE
dc.title Low-Temperature Atomic Layer Deposited Oxide on Titanium Nitride Electrodes Enables Culture and Physiological Recording of Electrogenic Cells de_DE
dc.type Article de_DE
utue.quellen.id 20210304112512_01473
utue.personen.roh Dollt, Michele
utue.personen.roh Reh, Miriam
utue.personen.roh Metzger, Michael
utue.personen.roh Heusel, Gerhard
utue.personen.roh Kriebel, Martin
utue.personen.roh Bucher, Volker
utue.personen.roh Zeck, Guenther
dcterms.isPartOf.ZSTitelID Frontiers in Neuroscience de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Issue Article 552876 de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Volume 14 de_DE
utue.fakultaet 04 Medizinische Fakultät de_DE
utue.fakultaet 07 Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät de_DE


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