Nanoimaging of Orientational Defects in Semiconducting Organic Films

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dc.contributor.author Schreiber, Frank
dc.date.accessioned 2021-11-08T10:26:10Z
dc.date.available 2021-11-08T10:26:10Z
dc.date.issued 2021
dc.identifier.issn 1932-7455
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10900/120534
dc.language.iso en de_DE
dc.publisher Amer Chemical Soc de_DE
dc.relation.uri http://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.1c00059 de_DE
dc.subject.ddc 530 de_DE
dc.subject.ddc 540 de_DE
dc.title Nanoimaging of Orientational Defects in Semiconducting Organic Films de_DE
dc.type Article de_DE
utue.quellen.id 20210824232002_01258
utue.publikation.seiten 9229-9235 de_DE
utue.personen.roh Mrkyvkova, Nada
utue.personen.roh Cernescu, Adrian
utue.personen.roh Futera, Zdenek
utue.personen.roh Nebojsa, Alois
utue.personen.roh Dubroka, Adam
utue.personen.roh Sojkova, Michaela
utue.personen.roh Hulman, Martin
utue.personen.roh Majkova, Eva
utue.personen.roh Jergel, Matej
utue.personen.roh Siffalovic, Peter
utue.personen.roh Schreiber, Frank
dcterms.isPartOf.ZSTitelID Journal of Physical Chemistry C de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Issue SI de_DE
dcterms.isPartOf.ZS-Volume 125 de_DE
utue.fakultaet 07 Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät de_DE


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