Geant4 simulation for the responses to X-rays and charged particles through the eXTP focusing mirrors

Qi, L. Q.; Li, G.; Xu, Y. P.; Zhang, J.; Yang, Y. J.; Sheng, L. Z.; Basso, S.; Campana, R.; Chen, Y.; De Rosa, A.; Pareschi, G.; Qiang, P. F.; Santangelo, A.; Sironi, G.; Song, L. M.; Spiga, D.; Tagliaferri, G.; Wang, J.; Wilms, J.; Zhang, Y.; Lu, F. J.

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Geant4 simulation for the responses to X-rays and charged particles through the eXTP focusing mirrors

Autor(en):

Qi, L. Q.; Li, G.; Xu, Y. P.; Zhang, J.; Yang, Y. J.; Sheng, L. Z.; Basso, S.; Campana, R.; Chen, Y.; De Rosa, A.; Pareschi, G.; Qiang, P. F.; Santangelo, A.; Sironi, G.; Song, L. M.; Spiga, D.; Tagliaferri, G.; Wang, J.; Wilms, J.; Zhang, Y.; Lu, F. J.

Tübinger Autor(en):

Santangelo, Andrea

Erschienen in:

Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A - Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment (2020), Bd. 963, Article 163702

Verlagsangabe:

Elsevier

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2020.163702

ISSN:

1872-9576

DDC-Klassifikation:

530 - Physik
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel