Characterization of Oxide Layers on Technical Copper Material Using Ultraviolet Visible (UV-Vis) Spectroscopy as a Rapid On-Line Analysis Tool

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Characterization of Oxide Layers on Technical Copper Material Using Ultraviolet Visible (UV-Vis) Spectroscopy as a Rapid On-Line Analysis Tool

Autor(en): Stiedl, Jan; Green, Simon; Chasse, Thomas; Rebner, Karsten
Tübinger Autor(en):
Stiedl, Jan
Chassé, Thomas
Erschienen in: Applied Spectroscopy (2019), Bd. 73, H. 1, S. 59-66
Verlagsangabe: Sage Publications Inc
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1177/0003702818797959
ISSN: 1943-3530
DDC-Klassifikation: 600 - Technik
540 - Chemie
530 - Physik
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
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