Advanced methods for the optical quality assurance of silicon sensors
Autor(en):
|
Lavrik, E.; Panasenko, I; Schmidt, H. R.
|
Tübinger Autor(en):
|
|
Erschienen in:
|
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A - Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment
(2019), Bd.
922,
S.
336-344
|
Verlagsangabe:
|
Elsevier Science Bv
|
Sprache:
|
Englisch
|
Referenz zum Volltext:
|
http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.10.210
|
ISSN:
|
1872-9576
|
DDC-Klassifikation:
|
530 - Physik 600 - Technik
|
Dokumentart:
|
Wissenschaftlicher Artikel
|
Zur Langanzeige
|